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PM值濃度粒子計(jì)數(shù)器解決方案—Met One Instruments激光粉塵儀/PM值/粒子計(jì)數(shù)器
日期：2014-02-18瀏覽：1999次
PM值濃度粒子計(jì)數(shù)器解決方案—Met One Instruments激光粉塵儀/PM值/粒子計(jì)數(shù)器
溯源：PM 2.5即細(xì)顆粒物。
細(xì)顆粒物又稱細(xì)粒、細(xì)顆粒、PM2.5。細(xì)顆粒物指環(huán)境空氣中空氣動(dòng)力學(xué)當(dāng)量直徑小于等于 2.5 微米的顆粒物。它能較長(zhǎng)時(shí)間懸浮于空氣中，其在空氣中含量濃度越高，就代表空氣污染越嚴(yán)重。雖然PM2.5只是地球大氣成分中含量很少的組分，但它對(duì)空氣質(zhì)量和能見度等有重要的影響。與較粗的大氣顆粒物相比，PM2.5粒徑小，面積大，活性強(qiáng)，易附帶有毒、有害物質(zhì)（例如，重金屬、微生物等），且在大氣中的停留時(shí)間長(zhǎng)、輸送距離遠(yuǎn)，因而對(duì)人體健康和大氣環(huán)境質(zhì)量的影響更大（Roab)。
2013年2月，全國(guó)科學(xué)技術(shù)名詞審定委員會(huì)將PM2.5的中文名稱命名為細(xì)顆粒物。細(xì)顆粒物的化學(xué)成分主要包括有機(jī)碳（OC）、元素碳（EC）、硝酸鹽、硫酸鹽、銨鹽、鈉鹽（Na+）等。
2011年1月1日開始，我國(guó)環(huán)保部發(fā)布的《環(huán)境空氣PM10和PM2.5的測(cè)定重量法》開始實(shí)施。對(duì)PM2.5的測(cè)定進(jìn)行了規(guī)范，但在環(huán)保部進(jìn)行的《環(huán)境空氣質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)》修訂中，PM2.5并未被納入強(qiáng)制性監(jiān)測(cè)指標(biāo)。
2012年05月24日環(huán)保部公布了《空氣質(zhì)量新標(biāo)準(zhǔn)*階段監(jiān)測(cè)實(shí)施方案》，要求全國(guó)74個(gè)城市在10月底前完成PM2.5“國(guó)控點(diǎn)”監(jiān)測(cè)的試運(yùn)行。
2012年10月11日，中國(guó)國(guó)家環(huán)境保護(hù)部副部長(zhǎng)吳曉青表示，新的《環(huán)境空氣質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)》頒布后，環(huán)保部明確提出了新標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施的“三步走”目標(biāo)。按照計(jì)劃，2012年年底前，京津冀、長(zhǎng)三角、珠三角等重點(diǎn)區(qū)域以及直轄市、計(jì)劃單列市和省會(huì)城市要按新標(biāo)準(zhǔn)開展監(jiān)測(cè)并發(fā)布數(shù)據(jù)。截至目前，全國(guó)已有195個(gè)站點(diǎn)完成PM2.5儀器安裝調(diào)試并試運(yùn)行，有138個(gè)站點(diǎn)開始正式PM2.5監(jiān)測(cè)并發(fā)布數(shù)據(jù)。
Met One Instruments激光粉塵儀/PM值/粒子計(jì)數(shù)器由此而生：
E-Sampler美國(guó)Met One Instruments PM值監(jiān)測(cè)站
GT-526S美國(guó)Met One Instruments激光粒子計(jì)數(shù)器
GT-321美國(guó)Met One Instruments激光粒子計(jì)數(shù)器
MetOneInstruments831美國(guó)Met One Instruments PM值檢測(cè)儀
Met One Instrumen804美國(guó)四通道激光粒子計(jì)數(shù)器
Aerocet 531美國(guó)Met One Instruments激光粉塵儀/粒子計(jì)數(shù)器
BT-637S美國(guó)Met One Instruments激光粒子計(jì)數(shù)器
產(chǎn)品分類
- 氫檢儀氣密性檢漏檢測(cè)儀
- 國(guó)產(chǎn)源表，替代keithley
- 穩(wěn)科Wayne Kerr/MICROTEST
- 體積電阻率/表面電阻測(cè)試
- 半導(dǎo)體I-V/C-V/I-R測(cè)試
- 介電常數(shù)/電導(dǎo)率測(cè)試方案
- 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試
- 電化學(xué)工作站/恒電位儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(cè)試
- 電池/光伏/汽車充電樁測(cè)試
- DESCO/KLEINWACHTER靜電測(cè)試
- 體積電阻，電阻計(jì)，記錄儀
- 吉時(shí)利KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛斯佩克ESPEC環(huán)境試驗(yàn)箱
- 普源RIGOL/致遠(yuǎn)ZLG/鼎陽(yáng)SIGLENT
- Chroma致茂/EEC華儀EXTECH
- 邏輯分析儀/總線協(xié)議測(cè)試
- EMI/EMC/EMS電磁干擾兼容
- 賽默飛Thermo X射線光譜儀
- 紅外熱像儀
- 哈希HACH/萬(wàn)通Metrohm
- 美國(guó)BK PRECISION
- ADCMT愛德萬(wàn)ADVANTEST
- 賽多利斯/奧豪斯OHAUS
- 艾卡IKA
- 愛色麗X-Rite/電色NIPPON
- 賓德BINDER試驗(yàn)箱
- 博勒飛Brookfield
- 物料輪廓顏色缺料視覺篩選
- 梅特勒METTLER
- 金相切割/鑲嵌/研磨拋光
- ITECH艾德克斯/NGI恩智
- COSMOS氣體/鐵粉濃度計(jì)
- 羅德與施瓦茨R&S（惠美HAMEG）
- 同惠/長(zhǎng)盛/安柏
- 標(biāo)準(zhǔn)源/計(jì)量校準(zhǔn)檢定設(shè)備
- 晶圓、芯片、屏幕Particle
- 日置HIOKI/國(guó)產(chǎn)替代
- 鎖相放大器
- 噪聲/振動(dòng)/聲學(xué)測(cè)試方案
- 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電聲器件測(cè)試設(shè)備
- 長(zhǎng)盛耐壓絕緣電阻安規(guī)測(cè)試
- 永磁軟磁磁通量測(cè)試
- 汽車電子標(biāo)準(zhǔn)波形可編程電源
- 安捷倫Agilent色譜質(zhì)譜GC
- 默克Merck密理博Millipore
- SHIMAZU島津
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